PSA 990/1090/1190 粒徑分析儀

Anton Paar 粒徑分析儀
產品型號︰PSA粒徑分析儀
廠  牌︰Anton Paar

利用PSA系列的雷射繞射科技,您可以測定從奈米級至毫米級範圍內的濕式分散和乾粉的粒徑和粒徑分佈。
材料粒徑和粒徑分佈的知識對於產品開發和品質控制至關重要,因為這兩個參數都會影響可加工性以及最終產品的特性。
PSA 990/1090/1190 粒徑分析儀
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精簡的二合一設計可測量乾式和濕式樣品

PSA 儀器是唯一可在一部儀器內整合濕式及乾式分散模式的粒徑分析儀。樣品分散及測量均在儀器內部進行。這一項獨特設計使操作人員無需操作多組配件或手動調整。此軟體只需輕點滑鼠,即可在乾式、濕式分散模式之間切換,既節省時間又可避免操作失誤。 

寬測量範圍的多雷射技術

多雷射技術為您提供了廣闊的粒徑測量範圍。單雷射器 PSA 990 的測量範圍支援 0.2 μm 至 500 μm。為擴大測量範圍,PSA 1090 及 PSA 1190 採用獨特的繞射分析光學設計,包含多組雷射器。PSA 1090 設計採用雙雷射器以處理小至 40 奈米的顆粒,PSA 1190 則添加了第三個雷射器,使測量範圍擴展到 2.5 毫米。使用固態雷射器確保 PSA 系列的儀器在開機後即可立即進行測量,幾乎不需要預熱時間。

準確的乾粉粒徑分佈結果

由於固體粉末容易結塊導致測量結果錯誤,通常很難測量固體粉末的粒徑分佈。Dry Jet Dispersion (DJD) 技術是安東帕的專利技術 (FR2933314),用於有效分散和精準的分析粉末粒子。該創新設計採用一個空氣壓力調節器,可以根據樣品特性快速輕鬆地調節氣流。氣流產生的剪切力將聚集的顆粒分離,確保檢測到主要顆粒。 

終身保證精確度、再現性和穩定性

安東帕的粒徑分析儀完全符合 ISO 13320 標準,符合可追溯、準確及再現性的需求。雷射器和光學試驗台獨特的設計確立了再現性高於 1 % 的市場標準。此外,獨特的光學試驗台設計使所有光學元件皆安裝在鑄鐵底座上。這讓儀器無需重新對準,使 PSA 不僅成為研發環境的理想儀器,更成為惡劣環境下的理想儀器。因此,在使用年限內可保證精確度、再現性和穩定性。 

精簡的二合一設計可測量乾式和濕式樣品寬測量範圍的多雷射技術準確的乾粉粒徑分佈結果終身保證精確度、再現性和穩定性

  

 

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